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露點儀的測量方法

時間:2019-05-24 瀏覽次數:130

   1、露點儀測量方法
 
  不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術,檢測出露層并測量結露時的溫度,直接顯示露點。鏡面露點儀制冷的方法有:半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。露點儀采用的是直接測量方法,在保證檢露準確、鏡面制冷率和精密測量結露溫度前提下,該種露點儀可作為標準露點儀使用。目前國際上精度達到±0.1℃(露點溫度),一般精度可達到±0.5℃以內。
 
  2、露點儀的測量方法
 
  采用親水性材料或憎水性材料作為介質,構成露點儀電容或電阻,在含水份的氣體流經后,介電常數或電導率發生相應變化,測出當時的電容值或電阻值,就能知道當時的氣體水份含量。建立在露點單位制上設計的該類傳感器,構成了電傳感器式露點儀。目前國際上精度達到±1.0℃(露點溫度),一般精度可達到±3℃以內。
 
  3、電介法露點儀的測量方法
 
  利用五氧化二磷等材料吸濕后分解成極性分子,從而在電極上積累電荷的特性,設計出建立在含濕量單位制上的電解法微水份儀。目前國際上高精度達到±1.0℃(露點溫度),一般精度可達到±3℃以內。
 
  4、晶體振蕩式露點儀的測量方法
 
  利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性,可以設計晶體振蕩式露點儀。這是一項較新的技術,目前尚處于不十分成熟的階段。國外有相關產品,但精度較差且成本很高。
 
  5、紅外露點儀的測量方法
 
  利用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性,可以設計紅外式露點儀。目前該儀器很難測到低露點,主要是紅外探測器的峰值探測率還不能達到微量水吸收的量級,還有氣體中其他成份含量對紅外光譜吸收的干擾。但這是一項很新的技術,對于環境氣體水份含量的非接觸式在線監測具有重要的意義。
 
  6、半導體傳感器露點儀的測量方法
 
  每個水分子都具有其自然振動頻率,當它進入半導體晶格的空隙時,就和受到充電激勵的晶格產生共振,其共振頻率與水的摩爾數成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子,從而使晶格的導電率增大,阻抗減小。利用這一特性設計的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份。
 
  隨著現代科學技術的發展,人們紛紛把光電技術、新材料技術、紅外技術、微波技術、微電子技術、光纖技術、聲波技術甚至納米技術應用到氣體中水份的測量,使水份測量這一古老領域煥發出青春。
 
  在測量原理上,技術人員認定鏡面結露的方法是直接且精度高的方法。鏡面露點儀在技術上將引進近代技術成份。如我們研制的冷鏡式激光露點儀采用了激光準直技術和CCD技術,在露層判別、露霜圖像識別技術上走到了世界前沿。專業人員在傳統的傳感器材料研究(如氧化鋁材料、氯化鋰材料、高分子材料和陶瓷材料)基礎上,用完全不同的技術手段,陸續發展出許多間接測量氣體中微量水份的方式方法,解決了不同領域和不同環境中的微水份測量問題。
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